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UV-A单通道紫外辐照计

产品简介 UV-A 型紫外辐照计采用 SMT 贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正性能稳定, 适

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产品介绍

技术参数

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采购指南

产品简介

 

    UV-A 型紫外辐照计采用 SMT 贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过


严格的光谱及角度特性校正性能稳定, 适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植


物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。


技术参数


1、 波长范围及峰值波长:(以下两种选其一)

1)UV-420 探头:λ:(375~475)nm;λP420nm

2)UV-365 探头:λ:(320~400)nm;λP365nm


2、辐照度测量范围:

(0.1~199.9×103) μW/cm2


3、紫外带外区杂光: UV420:小于 0.02%

UV365:小于 0.02%


4、相对示值误差:±8%(相对与 NIM 标准


5、余弦特性(方向性响应)误差:±10%


6、线性误差:±1%


7、换档误差:±1%


8、短期不稳定性:±1%(开机 30min 


9、疲劳特性:衰减量小于 2%


10、零值误差:满量程的±1%


11、响应时间:


12、使用环境: 温度(0~40)℃,湿度<85%RH


13、 尺寸和重量:160mm×78mm×43mm;0.2kg


14、电源: 常规使用 6F22  9V 积层电池一只亦可使用数据线连接 USB 接口、5V 电源适配器供电


整机功耗 0.1VA


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